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  ICON 2019年度西安地区集成电路测试技术研讨会 发布日期:2019-12-4

2019年度西安地区集成电路测试技术研讨会圆满结束。会议为期3天(11月27日至29日),由北京华峰测控技术股份有限公司主办,陕西省半导体行业协会协办。微电子技术研究所、君信电子、西测电子、等十余家的器件生产厂家、元器件检测筛选中心的三十多位专家及测试工程师参加了本次研讨会。 

随着国内半导体行业的飞速发展,测试对象的复杂程度与日俱增,对测试设备及测试技术提出了更高的要求。针对器件测试的难点和痛点,结合真实测试样例,与会人员讨论热烈。

        北京华峰测控技术股份有限公司技术主管周昊鹏基于STS 8205混合信号测试平台,结合典型样例,与大家分享了运算放大器、脉宽调制器及电压调整器等类别器件的测试技术成果。基于STS6100超大规模集成电路测试平台,资深工程师于松涛与参会的专家及技术人员探讨分享了CMOS电路的测试技术。

 
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