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  ICON 2016年3月15-17日 AccoTEST 成功参加 SEMICON CHINA 2016 发布日期:2016-3-25

2016年3月15-17日,我公司参加了在上海新国际博览中心举办的全球半导体设备材料展(SEMICON CHINA 2016),现场展示了STS8250,STS8200EX两种机型,分别搭载着全新升级的测试头隆重亮相。本次展会的主题是“大规模模拟IC测试方案”,针对多Pins的模拟IC器件,更多数字通道要求的PMIC器件的测试解决方案,并展示了如何从现有的测试平台进行扩展,以及如何与现有的测试平台的兼容性关系。同时也对目前热门的Strip Test测试解决方案,IPM器件测试解决方案进行了介绍,引来大量关注、反响热烈。

AccoTEST的美国市场及销售总监 Dean VanDruff 先生和日本市场及销售总监 Katsumoto Hayashi 先生与上海、北京同事齐聚展会现场,为来自全球各地的用户提供最专业、全面的讲解和服务,充分展现了AccoTEST走向海外的品牌步伐,取得了很好的反响。

(上图为延时曝光拍摄)
今年的展位设计延续了以往的开放式空间和 LOGO主色调,凸显AccoTEST的国际化品牌形象。配合吊顶更显专业、大气,且大大提升了展馆内的辨识度,在林立的展位之中更易于被客户发现。加之展位位于N2馆7号门通道口,人流穿梭十分便捷,访客络绎不绝。

近年来AccoTEST拓展海外市场成绩显著,其中通过Dean VanDruff 先生在美国本土驱动的海外订单已经超过100台。为了嘉奖他的出色成绩,公司在展会现场举行了别具意义的颁奖仪式。

日本在全球IC产业里同样占据举足轻重的地位,具有数十年资深履历的日本市场及销售总监Katsumoto Hayashi 先生十分谦逊、和蔼。

在展会期间接待了大量海外客户,英语、日语无缝切换,十分敬业!

两位大咖不放过任何闲暇,经常看到他们专注的交流。他们的亮相也令本届展览更具国际范,显著提升了客户心中的品牌形象。

AccoTEST迈向海外市场的F4

IPM应用案例

STS8250

STS8200EX


我们凭借别具一格的展位、精良的产品和整齐划一的国际化团队,吸引了大量客户驻足参观。STS8250和STS8200EX一度遭到火爆围观,AccoTEST持续不断的提升和创新得到了新老用户的一致认可和肯定。


 

 

 
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